Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joseph I. Goldstein (Auteur), Dale E. Newbury (Auteur), D.C. Joy (Auteur), Charles E. Lyman (Auteur), Patrick Echlin (Auteur), Eric Lifshin (Auteur), Linda C. Sawyer (Auteur), J.R. Michael (Auteur)

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Description du produit

Hardcover